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环境控制扫描探针显微镜
浏览: 发布日期:2017-08-16
Bruker Multimode8 环境控制扫描探针显微镜

功能:
表面形貌(AFM)
扫描隧道显微镜(STM)
电场力显微镜(EFM)
表面电势显微镜(SPM)
压电响应模式(PFM)
横向力摩擦力显微镜(LFM)
纳米刻蚀技术(DPN)
 
技术参数:
扫描范围:120×120×5μm
噪声水平:< 0.3 Å
8通道同时采集数据1024K×1024K
环境O2及H2O浓度: < 1 ppm
 

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